F670 泄漏测试仪器
FOR INDUSTRIAL QUALITY CONTROL
1975年至今，有近500000台泄漏测试仪器，在全球范围超过5000个用户的工厂中使用。在成立近50年之际，ATEQ隆重推出新一代泄漏测试仪: F670
新的电子模块，新的测量模块，新的接口，新的配件…全部是为了提高你的质量控制
这台仪器配置了先进的泄漏检测方法和技术。
F670 : 应用领域
汽车、家用电器、医疗、航空、国防、阀体和电子元件,食品和化妆品包装…
F670 : 主要特点
•压差衰减泄漏测量。可使用正压或负压（真空）。
•泄漏测量的范围大（ΔP）F.S：20pa，50pa，500pa或5000pa
•可支持多达128条程序
•在线设置（通过USB）
•2种语言（英语+另一个)
•仪器面板支持手动快速插接校准漏口
•内部存储器或USB闪存的数据存储
测试模式
- ΔP（pa，0.1pa）
- ΔP/t (Pa/s, 0.1 Pa/s)
- 流量单位 (mm³/s, cm³/s, cm³/min, cm³/h…)
- 阻塞测试
- 爆破试验
- 密封零件测试
- 其他，这取决于您的应用程序
环境 : ROHS标准
通讯方式
- RS232:打印机,modbus RTU
- 从USB:PC监控(WinAteq 300,sesame)
- 主USB: USB闪存盘转移（参数，结果……）
- 现场总线：profibus,devicenet, profinet, Ethernet/l,Modbus TCP
性能参数 :
F670 : 技术规格
F670 : 选项
•9个输入/5个本地输出，兼容5系列仪器
•6个输入/6个输出，提供24V驱动电源
•电子调压阀
•双压力输出（检测压力）
•自动校准检查
•密封件检测所需的两路气源控制输出
•检测结果存储（1百万）
F670 : 技术
压差衰减是目前流行的技术，它使用参考体积来测试工件。这有助于补偿同时发生在两个部件上的任何环境压力或温度变化。
只有测试部件发生泄漏时，传感器膜片才会发生移动。
这种方法的第二个优点是精度不会随着测试压力的增加而降低，因为传感器测量的是两个回路之间的压力差，而传统的压力衰减技术测量的是相对于大气的压力降。
直接测试原理
给被测件3和参考件5充相同的压力。差分传感器4测量被测件3和参考件5之间的压力变化。在一些应用中，参考件可以由一个盖子代替。
脱敏试验
测试压力施加在被测部件 3 的输入端，由压力传感器 2 进行测量。
