ATEQ-F670LV

F670LV – 泄漏测试 专为大容积产品设计

F670LV是一款具有突破性的仪器，能够对大容量产品（高达200L）进行泄漏测试， 配置新一代 高精度压差传感器（基于压力衰减技术）.

通过使用带有DNC的ATEQ F670LV压差衰减测漏仪，现在可以检测到低于0.1 Pa/sec的压降。

应用

特性

规格

选项

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技术

F670LV : 应用

体积非常大的部件，如油箱、电动汽车电池……

由于电动汽车电池外壳是一个大而灵活的部件，很容易受到背景噪声变化的影响，因此它是ATEQ新型DNC泄漏测试技术的绝佳应用。

F670LV : 特性

• 支持多达128个程序
• 用于快速管理工件的大流量阀
• 集成的电子元件和气动元件
• 灵活的通讯方式： RS232、USB

环境 :
ROHS 标准

测量特性:

f670lv-features

WINATEQ 300 控制界面 :

F670LV : 规格

  • 外形

    • 重量 : 35 Kg
    • 尺寸 : (WxHxD) H295*W520*D550

  • 电源要求

    • 24 V DC / 1.6 A

  • 温度

    • 工作温度 : + 5°C at + 45°C
    • 存放温度 : 0°C at + 60°C

  • 气源要求

    • 清洁、干净的压缩空气
    • 空气质量标准 (ISO 8573-1)
    • 测试压力输入，需要一个外部调节器
F670 Large volume

F670LV : 选项

• 9 个输入 / 5个输出
• 可选的现场总线: PROFIBUS, DeviceNet, PROFINET, EtherNet/IP, EtherCAT network, Modbus RTU
• 自动化两路气源控制输出
• 清洁、干燥的压缩空气
• 空气质量标准 (ISO 8573-1)

F670LV : 下载手册

有关F670LV的详细信息，包括功能、规格等。

F670LV 中文 

F670LV : 技术

DNC 技术
消除泄漏读数的背景干扰

ATEQ的DNC(环境及产品变形等本体噪声消除)功能通过补偿背景干扰提供更稳定的泄漏读数，因此它们不会影响泄漏传感器。

工厂干扰

温度变化
开门或开窗、风扇、暖通空调系统

压力变化
时间、天气、声级

震动
机器移动、风、叉车、音乐

ATEQ的 DNC (环境及产品变形等本体噪声消除)功能通过补偿背景干扰提供更稳定的泄漏读数，因此它们不会影响泄漏传感器。

没有DNC的泄漏读数

有DNC的泄漏读数